GERÄTESTATIONEN
Der perfekte Schnitt – Präparation auf höchstem Niveau
> Metallographische Probenpräparation
Klassische metallographische Untersuchungen
> ZEISS Axio Imager.M2m
Zerstörungsfreies Prüfung von oberflächenoffenen Rissen und Poren an metallischen und nicht metallischen Werkstücke
> ZEISS Stereo Discovery.V12 mit Fluoreszenzeinheit
Korrelative Mikroskopie - die nützliche Verbindung von Lichtmikroskopie und Elektronenmikroskopie
> ZEISS EVO 15
Die vollautomatische Partikelanalyse mit SmartPI
> ZEISS EVO MA25
Die Vorteile eines Feldemissionsgeräts bei schwierigen Proben
> ZEISS Supra 40VP
Korrelativer Workflow zwischen Computertomographie und Mikroskopie
> ZEISS Metrotom 800 & ZEISS Crossbeam 350
Laserablation für einen schnellen und großflächigen Materialabtrag
> ZEISS Crossbeam 350
Charakterisierung der Oberflächentopografie von 3D-Mikrostrukturen
> ZEISS LSM 900
Messen in 2D und 3D
> ZEISS Smartzoom 5
Materialkennwertermittlung für die FE-Simulation mit optischer 3D-Messtechnik
> GOM ARAMIS